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可测定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,适用于多种金属基体
分析速度快捷，20秒内测完所有通道的元素成分
光学系统采用真空恒温光室， 激发时产生的弧焰由透镜直接导入真空光室，实现光路直通,消除了光路损耗，提高检出限，测定结果准确，重现性及长期稳定性极佳；
特殊的光室结构设计，使真空室容积更小，抽真空速度不到普通光谱仪的一半
波长范围：160-800nm
探测器：多块高性能线阵CCD
采用美国进口的端窗式微型X射线管，具有体积小、重量轻、安全可靠、操作简便等特点
配备高性能SDD探测器组件
广泛应用于冶金、铸造、机械、汽车制造、航空航天、兵器、金属加工等领域的生产工艺控制，炉前化验，中心实验室成品检验。
可测定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,适用于多种金属基体，如：铁基，铝基，铜基，镍基，铬基，钛 基，镁基，锌基，锡基和铅基
优良的数据稳定性，同一样品不同的时间段分析，可获得良好的数据一致性
高集成度、高可靠性、高稳定性
性价比高
滚筒中心距：310mm
砂带宽度：100mm
砂带长度：920mm
